Специализация: изучение структуры, локальных свойств и элементного состава твердых тел, методами сканирующей зондовой и электронной микроскопии.
Основные направления деятельности:
Оборудование:
Растровый электронный микроскоп EVO-40
Производитель: Carl Zeiss, Германия.
Предназначен для комплексных исследований морфологии, элементного состава и кристаллической структуры, проводящих и низкопроводящих мишеней с разрешением от 2 нм. Оснащен дифрактометрическим модулем EBSD-120404-SPB-1 (Carl Zeiss) и системой плазменной очистки 25 Zephyr (Oxford Instruments)
Напылитель для электронного микроскопа SC 7620
Производитель: Quorum Technologies, Германия.
Предназначен для нанесения тонких проводящих покрытий для исследования методами электронной микроскопии
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 Pro
Производитель: NT-MDT, Россия.
Предназначен для исследования морфологии и других свойств поверхности твердых тел методами атомно-силовой микроскопии.
Свидетельство об утверждении типа средств измерений
Владимир Петрович Пронин
Научный руководитель, доктор физико-математических наук, доцент
E-mail: pronin.v.p@yandex.ru
Часы работы: Понедельник - Пятница 10:00 – 18:00
Адрес: 191186, Санкт-Петербург, наб. реки Мойки 48, корпус 2, аудитории 362-363